片材四探针电阻测试仪

易卖工控网（www.ymgk.com）提供”片材四探针电阻测试仪”，产品详情：品牌/厂家：北广精仪、型号：BEST-300C、成色：全新、货期：现货 1天内发货、保修：180天，更多产品详情就上易卖工控网。

片材四探针电阻测试仪适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

配套方案：解决各材料状态 --固态、液态、气态、颗粒状 电阻、电阻率、电导率测量

采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，实验室；是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。可配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率。液晶显示，温度补偿功能，自动量程，自动测量电阻，电阻率，电导率数据。恒流源输出；选配：PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器，薄膜按键操作简单，中文或英文两种语言界面选择.

四端测试法是目前较先进之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

金属导电电阻率测试仪技术参数1、电阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

电   阻：1×10-5～2×105Ω

电导率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：  小1μΩ
测量误差±5%
2、测量电压量程： 2mV   20mV  200mV 2V 
   测量精度±（0.1%读数）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。
   ⑵量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA, 
   ⑶误差：±0.2%读数±2字

4. 主机外形尺寸：330mm*340mm*120mm

5、显示方式：液晶显示6、电源：220±10% 50HZ/60HZ

7、标配：测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

测量范围、分辨率（括号内为拓展量程，可定制）

本装置采用液压系统，人工加压方式；配置高度表显示粉体压缩后的高度，本装置需与我司粉末电阻率测试仪共同使用。压强数据，样品厚度数据，全部在粉末电阻率测试仪显示器上设置与操作；包括电阻率，电阻，导电率等数据自动显示；模具采用高硬度及绝缘性材料；上下电极为紫铜材质；本装置良好；操作简单，具有恒压功能；超压力保护功能；广泛应用于企业，实验室，研发，质检机构，大中专院校。

良好的提离补偿：保证一般表面不特殊处理都可以准确检测。

良好的稳定性：是您进行质量控制的贴身卫士。

人性化的智能软件：带给您舒顺的检测界面及强大的数据处理及采集功能。

操作便捷：生产现场、实验室随处可用，赢得广大使用者的青睐。

自行更换探头：每台主机可配备多把探头，用户可随时自行更换。

四探针导电电阻测试仪广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等

本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

四探针半导体粉末电阻率测试仪是测定电池极片电导值的常用方法。这是因为四点探针法消除了探针与样品(压缩片或涂层)之间的接触电阻。然而，有两点值得注意。首先，在大多数四探针方法中，电极材料的浆液在绝缘基板上涂上一薄层或适当厚度，而不是像铝箔这样的集电极材料。在绝缘基板上涂敷这种涂层的目的是为了准确地测试电极材料的电导率，避免向基板方向的支流。如果衬底电流收集器材料,即使分岔电流通过调整探头的距离和其他方法,电流的方向平行转移到涂料,忽略基体和涂层之间的区别,所以结果只能代表涂层的电阻。实际情况极片，但界面电阻。第二,电池的电极涂层在实际应用相对较厚和四探针方法忽略了涂层梯度的磁极,只获得涂层的电阻贡献的一部分,不能完全描述磁极的电阻值。由于铜箔、铝箔和探头的材料均为高导电性材料，所以集流器和探头的体电阻只占很小的一部分。但测试过程中的电子传导路径与实际电池极片基本相同。总测试值包括各部分的电子传导特性。可以快速研究工艺对极片电阻的影响，直接在生产线上完成试验。以粉末活性材料为例，连接粉末电阻测试系统和低电阻测试仪进行测试。粉末电阻测试不是测试单个粉末颗粒，而是测试整个聚集的粉末样品。粉末聚集在气缸和活塞系统中，由连接到油泵的活塞增压。当压力较小时，试样密度相对较低，与粉末接触较差，电导率较低，电阻率较高，但与强压力相反。因此，需要特别注意的是，粉末样品的电阻率/导电性会随着压力的增加而持续变化。湿度也会增加电导率，所以测试环境中的湿度也会影响测试。

四探针电阻率测试仪使用两个位置测量，一个是直的，一个是方形的。单晶硅物理测试符合美国的a.s.t.m标准

双电试验法

使用当前探针和电压探针的转换进行两个电测量，并执行数据的双电测量和分析。

优势

它会自动将样本的几何、边界的影响、探针的等距离和机器的徘徊的影响排除在测量结果中。与4个直或方形探针的单一电测量相比，它提高了精度。

特别是倾斜的4个探针，非常适合测量微小区域。