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MT3TGS测厚仪透明薄膜测厚仪精密激光厚度测量系统

产品价格：: ¥ 2000.00

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品牌：: 美国mti

型号：: microtrak3 TGS

成色：: 全新 | 保修365天

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microtrak™3 TGS 测厚仪

microtrak 3测厚仪系统结合的证明激光三角传感器的模块化控制器，可以操作无论是作为一个独立的解决方案，或与PLC / PC microtrak™3 TGS控制器可以检测出范围厚度的条件下在0.00025秒钟内通过一个数字输出引脚提供指示。由于激光位移传感器的非接触式的设计，被测物体不会变形或损坏以及目标运动不会挫伤。

产品描述

microtrak^TM3 TGS是一种非接触式激光测厚系统，可以测量到40毫米厚度0.06% FSR线性，理想的测量范围广泛的材料类型，如玻璃，塑料，金属，复合材料和纸制品。microtrak的^TM3 TGS是功能，简化了应用程序的内部厚度通过高速采样和数字厚度计算自动厚度控制的理想工具，减少错误经常遇到的传统的求和方法。此外，可以测量3 TGS microtrak高频运动因为没有部分传感器需要保持在与物体接触，使它们适合用于高速生产线上的应用。

MT3TGS测厚仪透明薄膜测厚仪精密激光厚度测量系统测厚仪,透明薄膜测厚仪,晶圆测厚仪,MTI,MT3TGS测厚仪

概述
参数
产品规格
产品尺寸
型号

microtrak™3 TGS 测厚仪

产品描述

MT3TGS测厚仪透明薄膜测厚仪精密激光厚度测量系统测厚仪,透明薄膜测厚仪,晶圆测厚仪,MTI,MT3TGS测厚仪

产品特点

mictrotrak的

^TM3 TGS具有可编程的上限和下限，允许Web自动检测过程中的厚度。

±FSR的0.06%度
厚度测量范围可从4mm至40mm模型
预定厚度或皮重功能
最新的CMOS传感器技术-超越竞争对手的高线性度
准确和可重复的测量高反射的暗面
内置彩色LCD显示允许如厚度或步骤的各种测量方式直观的设置，你甚至可以跟踪峰值，峰值或峰—
自动增益电路的自动确定和调整对不同类型的表面所需要的理想的激光功率
可编程剪切时间特征的桥接功能，忽略了孔和切口对象过程中间隙的测量与控制
用户可以为NIST可追溯的标准或量块皮重
英语和公制单位的支持
DIN导轨安装
Modbus输出（RTU）在RS485或可选的USB

概述
参数
产品规格
产品尺寸
型号

microtrak™3 TGS 测厚仪

产品描述

MT3TGS测厚仪透明薄膜测厚仪精密激光厚度测量系统测厚仪,透明薄膜测厚仪,晶圆测厚仪,MTI,MT3TGS测厚仪

产品特点

mictrotrak的

^TM3 TGS具有可编程的上限和下限，允许Web自动检测过程中的厚度。

±FSR的0.06%度
厚度测量范围可从4mm至40mm模型
预定厚度或皮重功能
最新的CMOS传感器技术-超越竞争对手的高线性度
准确和可重复的测量高反射的暗面
内置彩色LCD显示允许如厚度或步骤的各种测量方式直观的设置，你甚至可以跟踪峰值，峰值或峰—
自动增益电路的自动确定和调整对不同类型的表面所需要的理想的激光功率
可编程剪切时间特征的桥接功能，忽略了孔和切口对象过程中间隙的测量与控制
用户可以为NIST可追溯的标准或量块皮重
英语和公制单位的支持
DIN导轨安装
Modbus输出（RTU）在RS485或可选的USB

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主要应用

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板材厚度检测

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卷起来的厚度量测

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纤维水泥板台阶高度测量

其他关联产品应用

薄膜厚度测量
亚纳米的距离/厚度测量电容放大器
单点激光头传感器
2维激光头传感器

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